В книге обсуждаются особенности и недостатки методов реконфигурации для ПЛИС в свете их использования в аэрокосмической области. Объясняется, как космическое излучение вызывает программные ошибки в ПЛИС и как их смягчать. Книга поможет читателям определять целевое использование ПЛИС под воздействием излучения, используя метод внесения неисправностей. В издании вводятся понятия программных ошибок в ПЛИС как
в плане мотивации для критически важного и удаленного использования коммерческого программного обеспечения ПЛИС, так и в аэрокосмической сфере. Авторы опи-
сывают воздействие радиации на ПЛИС, представляют большой набор методов смягчения программных ошибок, которые могут применяться в данных микросхемах, так же
как и методы квалификации этих микросхем в условиях воздействия радиации. Книга охватывает такие аспекты, как воздействие радиации на ПЛИС, отказоустойчивые методики для ПЛИС, использование коммерческого программного обеспечения ПЛИС в аэрокосмиче-
ской области, экспериментальные данные ПЛИС под воздействием излучения,
встроенные в ПЛИС процессоры под воздействием излучения и в случаях внесения
ошибок в ПЛИС.

sitemap

Разработка: студия Green Art