eng
Просмотры: 722
26.07.2019
Авторами рассмотрены инженерно-технические и организационно-методические решения по защите от обратного проектирования современных микросхем.
Книга может быть полезна специалистам в области микроэлектроники, разра-
ботчикам отечественной элементной базы, а также студентам, обучающимся по
специальностям, связанным с разработкой микросистем и информационной
безопасностью.
Данная работа состоит из введения, 5 глав, двух приложений, списков рисунков, таблиц и использованных сокращений.
В главе 1 рассмотрены вопросы информационной безопасности при применении современных микросхем в радиоэлектронной аппаратуре, что подтверждает мнение авторов об опасности изделий микроэлектроники. Во второй главе приведены вопросы, касающиеся собственно процесса обратного проектирования микросхем и «физико-механические» способы защиты от обратного проектирования.
В главе 3 рассмотрены факторы уязвимости при fabless (foundry) процессе изготовления микросхемы.
Глава 4 посвящена вопросу измерения S-параметров как предлагаемому авторами методу контроля однородности партий изделий.
Глава 5 посвящается вопросам обеспечения аппаратной целостности ПЛИС, которые
представляют собой удобную модель для исследования вопросов подлинности и доверительности.
Комментарии читателей
