В книге рассказывается о воздействии ионизирующего излучения на современные полупроводниковые приборы, а также обсуждаются схемотехнические методы обеспечения радиационной стойкости заказных микросхем.
Издание охватывает широкий спектр устройств, от схем памяти и микропроцессоров до смешанных аналоговых компонентов и формирователей изображений.
Авторы книги делают акцент на экспериментальных аспектах, а также моделировании радиационных эффектов в электронных устройствах.
В книге представлены несколько вызывающих интерес сфер, включая физику высоких энергий, наземных и космических объектов. Помимо теоретических обоснований
в ней достаточно практических аспектов, что позволяет
использовать издание для конкретных целей.