Техносфера - Основы тестирования микросхем

главная

eng

Вход

О компании

Журналы

Книги

Медиаданные

Редакционная политика

Контакты

© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

выбрано книг: 0

Хиты продаж

Серии книг

Библиотека Института стратегий развития

Мир квантовых технологий

Мир математики

Мир физики и техники

Мир биологии и медицины

Мир химии

Мир наук о Земле

Мир материалов и технологий

Мир цифровой обработки

Мир экономики

Мир дизайна

Мир увлечений

Мир робототехники и мехатроники

Библиотека климатехника

Книги, изданные при поддержке РФФИ

О книге

Коллектив авторов под редакцией Лучинина В.

Основы тестирования микросхем

Цена: —

Отзывы на книгу

Оставить свой отзыв

Купить книгу

Книги нет в издательстве

Ещё книги из этой серии

Чумаков А.И.
Радиационные эффекты в интегральных схемах
1600 руб.

Белоус А.И., Чижик С.А.
МЭМС: конструкции, технологии, приложения
2200 руб.

Белоус А.И., Паньков А.А.
Корпусирование микроэлектронных приборов. Технологии, конструкции, оборудование
1960 руб.

Все книги из серии "Мир электроники"